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電子芯片研發(fā)100L可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱廠家構(gòu)造美觀,高效安全,用途廣泛高低溫試驗(yàn)箱是航空,汽車,家電,科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備,用于測試和確定電工,電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫,低溫,或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

電子芯片研發(fā)100L可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱廠家

型號(hào)與參數(shù)

型號(hào)㎜        工作尺寸                            外型尺寸

100L          450×450×500                    1150×900×1650

225L          500×600×750                    1200×1100×1900

408L          600×850×800                    1350×1280×2200

800L          800×1000×1000                  1450×1480×2300

1000L         1000×1000×1000                 1650×1480×2300

溫度范圍：

0℃-100℃ -20℃-100℃  -40℃-100℃  -60℃-100℃  -70℃-100℃

低溫至常溫，也可按客戶需要定制非標(biāo)試驗(yàn)箱，低溫試驗(yàn)室

溫度波動(dòng)度：±0.5℃（空載時(shí)）

溫度偏差：≤±2℃

升降溫平均速率：0.7℃～1.0℃/min （空載時(shí)）

時(shí)間設(shè)定范圍：0～9999 小時(shí)

電源要求：AC380V